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신뢰성 시험장비

Testing Equipments

  1. Constant Temp. & Humidity Test Chamber (항온항습조)

    적용 : 반도체, 전자부품 등의 온 습도 변화, 금속의 환경 실험, 자동차부품 신뢰성 시험, 토목 재료시험, 생태학, 병리학, 보존성 실험, 섬유연구, 의약품의 안정성 및 보관 실험 등 그 사용 범위가 광범위 합니다. ▷ SFD 상호기능 : 휀과 댐퍼의 상호 작용...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views1096 file
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  2. Constant Temp. Chamber (항온조)

    ▶ Applications : Test chamber meets IEC, UL and a variety of other test specification; high and low temperature testing, temperature cycling test, etc. International test standards related as followings : IEC 60068-2-1 Test A : Cold, IEC 60...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views552 file
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  3. Environmental Stress Screening Chamber (환경응력 시험 챔버)

    전자 부품 또는 제품의 전처리 및 노화시험, 고분자 소재 (플라 스틱관 및 이음관 등)의 열 피로에 의한 초기 고장발생 원인 규명과 결함이나 흠집을 찾아내어 개선하는 등 완성품의 적합성 시험 및 규정된 비율로 온도가 변화하는 시험 용도로 사용됩니다. ▷...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views523 file
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  4. Thermal Shock Tester (열충격 시험기)

    ▷ 적용 : 반도체, 전자부품 등 각종 소재나 제품을 짧은 기간 내에 극저온ㆍ극고온의 급격한 온도 변화 (Ramping/ Dwell)를 반복적 으로 재현함으로써 열충격에 의한 피로고장 가속 환경시험을 효율적으로 운영할 수 있는 신뢰성시험 장비입니다. ▷ LCD 터치...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views545 file
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  5. Burn-In Chamber (번인 챔버)

    번인 (Aging) 테스트는 반도체 팩키지, PBC모듈, 메인보드, LED, HDD, 셋톱박스 등 시스템 신뢰성 욕조커브의 초기에 높은 고장율을 갖는 주기 (Early Infant mortality) 동안에 고장을 발생시키게 함으로써 시스템의 결함을 감지 선별하고 개선을 위하여 실...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views277 file
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  6. Panelized Work-In Chamber (워크인 챔버)

    ▷ 적용 : 본 설비는 전기 및 전자, 자동차 부품, 항공, 조명, 태양광 모듈 (PV module) 등 폭 넓은 분야에서의 환경 시험 (온도 사이클시험, 내한/내습성 시험, 태양 복사 시험)과 저온 시험, Burn-in room 등으로 사용됩니다. ▷ 5.7” 터치형 100 패턴 ...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views190 file
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  7. Highly Accelerated Stress Test (HAST) Chamber (고가속 스트레스 시험 챔버)

    ▷ 적용 : HAST는 THB (Temperature-humidity bias test) 대안으로 THB 테스트의 주요 단점은 사용 가능한 데이터를 얻기 위해서는 수 주일(1000시간)이 걸려 실험이 완료됩니다. 그러나 HAST는 좀더 가혹한 응력을 사용하는 반면에 실험 결과는 96 ~ 100시간 ...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views422 file
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  8. Pressure Cooker Tester (PCT 시험기)

    ▷ 적용 : 주로 반도체 다이 표면의 금속 부위를 포함한 전체 제품의 금속 부위의 부식을 가속화하기 위해 고온, 고압, 고습도의 가혹한 상태에서 패키지 회로기판(Substrate) 등을 노출 시켜 견디는 제품의 능력을 평가하는 신뢰성 시험장치 입니다. (121℃, 1...
    Date2017.05.18 By세종과학 Views446 file
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